堀川裕司
経歴
研究業績
- 「科学から技術への見えの提示 : 半導体MIRAIプロジェクトにおける計測・評価」
- 「技術の二重性-CMP装置産業における計測・評価技術の意味」『組織科学』
受賞学術賞
- 組織学会高宮賞論文部門 (2005)
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