LADI
概要
2002年にプリンストン大学のStephen Y. Chou達のグループが開発した[1][2]。
ナノインプリント・リソグラフィと反応性イオンエッチングによって作製された石英の型をシリコン基板上にレーザーパルス光を照射して表面近傍を溶融させながら押し付けてパターンを転写する[2]。
幅140nm、高さ110nm、長さ8~17μmの細線パターンの転写が確認され、反応性イオンエッチングで転写型の細線パターンに沿って作製した幅10nm、深さ15nmの溝の形状も転写できたとされる[2][1]。
従来の高額な露光装置を使用せずに微細構造をシリコンウエハー上に250ns以下という極めて短時間で作成できるとされる。[2]。
用途
- マイクロコンタクトプリンティング等と同様にボトムアップ方式のナノテクノロジーの基盤技術として期待される[2]。
短所
- 転写時の位置合わせ(アライメント)の精度が重要だが、加熱処理により、ウエハーと転写型の熱膨張等も考慮しなければならず、難易度が高い。
- 転写時に転写対象に接触するので転写型のコンタミネーションによる汚染の可能性がある。
- 大面積のシリコンウエハーにレーザー光を均一に照射する必要がある。
脚注
- Chou, Stephen Y., Chris Keimel., Jian Gu. "Ultrafast and direct imprint of nanostructures in silicon." Nature 417.6891 (2002): 835-837.
- “ナノスケールの“刻印”や“印刷”でナノデバイスの量産性を競う ─ 2002年8月の注目論文”. 2016年10月7日閲覧。
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